XRD及びSAXSを用いたSi負極の結晶子・粒子径解析

Si負極材は、高容量材料として期待されていますが、放電・充電時に発生する体積膨張を抑制するため、Si負極材のナノ粒子形成が研究されています。粒子径の測定にはいくつかの分析方法がありますが、SAXSは特にナノ粒子の分析に優れています。SAXSにより、Si負極材の粒子径は39nmと算出されました。また、XRDプロファイルからFP法で算出した結晶子径は40nmと算出されました。粒子径と結晶子径がほぼ同じであることから、この分析に用いたSi負極材は単粒子とみなすことが出来ます。