充放電中の電解質内クラックの可視化

充放電中の電解質内クラックの可視化

電池の劣化は様々な要因によって引き起こされます。マクロ的に考えると、空孔、クラック、粒子の崩壊、界面剥離などの問題が挙げられます。内部観察法であるX線CTを用いれば、電池を分解することなくその場で内部を観察することが可能です。さらにX線顕微鏡(XRM)を用いることで、X線マイクロCTよりも高コントラスト・高解像度の計測が可能です。電池動作中の固体電解質内のクラック成長を非破壊で可視化した結果を示します。

図. 固体電解質のX線CTイメージ 2.5 micron/voxel

下記論文を参考

Misae Otoyama, Motoshi Suyama, Chie Hotehama, Hiroe Kowada, Yoshihiro Takeda, Koichiro Ito, Atsushi Sakuda, Masahiro Tatsumisago, and Akitoshi Hayashi,
ACS Applied Materials & Interfaces 2021 13 (4), 5000-5007

https://doi.org/10.1021/acsami.0c18314